型号：CINDBEST CM-4 |
更新时间：2023-06-20 | 阅读：804
详情介绍
精密I-V测试测量探针台系统
台体尺寸
水平旋转 | 2英寸*3英寸 |
10微米 | |
可升降mm | |
真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附环 | |
左右各一个针座平台，最多可放置6个探针座 | |
样品台电学独立悬空，4mm插孔可接背电极 | |
400mm长*380mm宽*500mm高 | |
约20千克 |
精密I-V测试测量探针台系统
光学系统：
单筒显微镜/体式显微镜 |
16X-200X |
水平方向绕立柱360度旋转，Z轴50.8mm |
外置LED无极调节亮度环形光源 |
200万像素/500万像素/1200万像素 |
定位器：
12mm*12mm*12mm |
10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 |
磁力吸附/真空吸附 |
同轴线/三轴线 |
10pA/100fA/10fA |
弹簧固定/管状固定 |
BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子 |
0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
钨钢/铍铜 |
可选附件
显示器 |
射频测试配件 |
光学平台 |
光电测试配件 |
规格及设计如有更改，恕不另行通知。
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