Keithley 大功率半导体器件测试系统2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统可以提供高达10kV或100A的电流、电压测试范围，可匹配目前的大功率半导体器件测试对大电压和大电流的要求，通过增加选件也可实现高压交流信号测试，大电压可达3kV。该系统采用模块化设计，客户可根据目前要求选择性价比合适的测试模块，同时支持后续扩展升级。

• 广泛的测试解决方案，包括测试源表、线缆、夹具、探针台、软件及应用案例；
• 电压测试范围从uV至10kV，电流测试范围从fA至100A，可根据测试要求进行灵活选择；
• 大功率交流信号测试模块，可实现大电压的C-V测试；
• 系统选用的波形记录器及参数分析仪均沿袭了吉时利产品的高品质特性，为用户提供高精度的测试数据；
• 该系统可同时兼顾封装组件和片上晶圆的测试，既节省了测试时间，又节约了设备成本。

　　吉时利向您推荐2600-PCT-xB系列测试系统，可提供高达10kV或100A的电压、电流范围，不仅可以进行常规的IV测量，还可增加选件实现大功率的CV测量。该测试系统可以满足各类大功率半导体器件的测试要求，而且该系统可以兼顾器件封装后和片上测量，用一套系统就能实现器件不同阶段的检测，既简化了测试环节也节省了设备成本。

开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

Keithley 大功率半导体器件测试系统特点

• 完善的解决方案，价格实惠且性能优异

• 可现场升级和重新配置，将 PCT 转换成可靠性或晶片分类测试仪

• 可配置功率电平：

• 200V 至 3kV

• 1A 至 100A

• 宽动态范围：

• µV 至 3kV

• fA 至 100A

• 全量程容-电压 (C-V) 能力：

• fF 至 µF

• 支持 2、3 和 4 端器件

• 高达 3kV DC 偏移

• 高性能测试夹具支持一系列软件包类型

• 探头测试台接口支持最常见的探头类型，包括 HV 同轴三线电缆、SHV 同轴电缆、标准同轴三线电缆等